Der In-Circuit-Test (ICT) prüft einzelne elektrische Bauteile und Verbindungen direkt auf der Baugruppe, z. B. auf korrekte Bestückung und Kurzschlüsse. Der Funktionstest (FKT) prüft die Baugruppe dagegen als Ganzes in ihrer späteren Funktion. Je nach Produkt können beide Verfahren kombiniert werden.