Der In‑Circuit Test (ICT) prüft elektronische Baugruppen über einen Nadelbett‑Adapter, der definierte Testpunkte kontaktiert. Widerstände, Kapazitäten, Diodenstrecken, Transistoren und IC‑Pins werden einzeln elektrisch vermessen, während Kurzschlüsse, Unterbrechungen oder Fehlbestückungen zuverlässig erkannt werden. Auch vollständige Funktionstests einzelner Schaltungsteile können abgebildet werden. Der ICT bietet sehr hohe Fehlerabdeckung und kurze Prüfzeiten, ist jedoch in der Einrichtung aufgrund des Adapters aufwendig. Bei mittleren bis hohen Stückzahlen amortisiert sich dieser Aufwand schnell.
